測試方法、裝置、測試設(shè)備、被測設(shè)備、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111292094.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113961471A 公開（公告）日 2022-01-21
申請公布號 CN113961471A 申請公布日 2022-01-21
分類號 G06F11/36（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 郭少軍;李杰;王欣;李鎮(zhèn)江 申請（專利權(quán)）人 上海喜日電子科技有限公司
代理機構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 張欣欣
地址 201100上海市閔行區(qū)紫星路588號2幢2093室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的測試方法、裝置、測試設(shè)備、被測設(shè)備、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)，方法包括：獲取界面更新數(shù)據(jù)，其中，界面更新數(shù)據(jù)是被測設(shè)備基于更新后的測試需求生成；根據(jù)界面更新數(shù)據(jù)，更新測試界面；更新后的測試界面包含測試需求；基于更新后的測試界面，對被測設(shè)備進行測試。與現(xiàn)有技術(shù)中一次性開發(fā)的測試界面不同，本發(fā)明實施例在執(zhí)行測試之前，可以由被測設(shè)備基于新增的測試需求先生成界面更新數(shù)據(jù)，并傳輸給測試設(shè)備，以使測試設(shè)備對測試界面進行更新，從而避免了重新修改界面工作量較大，降低了測試效率的問題。