干涉法折射率測(cè)定儀

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN92108381.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN1077533A 公開(kāi)（公告）日 1993-10-20
申請(qǐng)公布號(hào) CN1077533A 申請(qǐng)公布日 1993-10-20
分類號(hào) G01N21/45 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 徐懷方 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海師大科技開(kāi)發(fā)總公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 200234上海市桂林路十號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種用干涉法測(cè)定光學(xué)透明材料特別是高折射率材料和各向異性晶體的折射率絕對(duì)值的光學(xué)儀器，它對(duì)待測(cè)樣品形狀的要求僅是有一對(duì)平行的通光平面，它對(duì)待測(cè)折射率的范圍無(wú)限制。它的干涉儀由于使用同光路干涉模式，因而有極好的穩(wěn)定性。由于使用了計(jì)算機(jī)它工作完全是自動(dòng)化的。它測(cè)折射率的精度可達(dá)1×10-5。它無(wú)需改造便可用來(lái)測(cè)定連續(xù)激光的波長(zhǎng)。它測(cè)波長(zhǎng)的精度可達(dá)5×10-10cm。