一種外延基底用硅晶片之背面膜層及制造方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202010258297.7 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113496869A | 公開(公告)日 | 2021-10-12 |
| 申請公布號 | CN113496869A | 申請公布日 | 2021-10-12 |
| 分類號 | H01L21/02(2006.01)I;C23C16/24(2006.01)I;C23C16/40(2006.01)I;C23C16/455(2006.01)I;C23C16/458(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 李小艷;張俊寶;陳猛 | 申請(專利權)人 | 上海超硅半導體股份有限公司 |
| 代理機構 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 400714重慶市北碚區(qū)兩江新區(qū)云漢大道5號附188號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供一種外延基底用硅晶片之背面膜層及制造方法。所述外延基底用硅晶片之背面膜層包括:雙層膜,所述雙層膜包括直接覆蓋在硅晶片背面上的第一層,以及第一層上覆蓋的第二層;所述外延基底用硅晶片之背面膜層的制造方法包括:步驟1,將硅晶片背面朝上裝爐后,采用三步低溫高速化學氣相沉積法生長第一層膜;步驟2,將經(jīng)步驟1后硅晶片正面(拋光面)朝上裝爐后,采用低壓化學氣相沉積法在第一層膜上生長第二層膜。本發(fā)明的優(yōu)勢在于:提高了雙層膜的膜厚均勻性,增強了背面膜的背封效果,解決了因硅晶片背面膜膜厚不均勻、晶舟印、顆粒等問題對所造成的鏡面拋光不良。 |





