基于可編程邏輯器件的多芯片自動測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200710134884.X 申請日 -
公開（公告）號 CN101158708A 公開（公告）日 2008-04-09
申請公布號 CN101158708A 申請公布日 2008-04-09
分類號 G01R31/317(2006.01) 分類 測量；測試;
發(fā)明人 唐偉 申請（專利權(quán)）人 無錫漢柏信息技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 無錫漢柏信息技術(shù)有限公司
地址 214028江蘇省無錫市新區(qū)新泰路8號江蘇國際技術(shù)轉(zhuǎn)移中心
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及集成電路自動化測試技術(shù)，具體地說是一種基于可編程邏輯器件(FPGA)的多芯片自動測試方法。按照本發(fā)明提供的技術(shù)方案，在可編程邏輯器件中包括相互連接的采樣電路、數(shù)字比較器電路、譯碼器及激勵(lì)產(chǎn)生電路，其特征是：數(shù)字比較器電路的輸入端與多路選擇器的輸出端連接，采樣電路的輸入端與若干個(gè)被測試芯片相連；激勵(lì)產(chǎn)生電路分別與若干個(gè)被測芯片和一個(gè)已測芯片連接；譯碼電路的輸出端與多路選擇器連接。本發(fā)明利用可編程邏輯器件(FPGA)建立一套簡單的自動測試系統(tǒng)，可以在測試板上同時(shí)完成一個(gè)或多個(gè)芯片的自動化測試工作，不僅可以實(shí)現(xiàn)自動化測試，而且投入成本少、開發(fā)速度快，完全可以滿足小批量產(chǎn)品測試的要求。