一種對記憶體模組進行檢測的智能檢測方法及智能檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810951042.1 申請日 -
公開（公告）號 CN108627195A 公開（公告）日 2018-10-09
申請公布號 CN108627195A 申請公布日 2018-10-09
分類號 G01D21/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 謝志杰 申請（專利權(quán)）人 深圳市金邦科技發(fā)展有限公司
代理機構(gòu) 深圳市深聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張琪
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)蛇口工業(yè)區(qū)工業(yè)六路以北沿山路以東興興工業(yè)大廈401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種對記憶體模組進行檢測的智能檢測方法及智能檢測系統(tǒng)，其用以同時對設(shè)置于多個檢測裝置上的待測組件逐一進行以下步驟：檢測步驟、記錄步驟及順序調(diào)整步驟。在檢測步驟中，控制裝置將控制多個檢測裝置，對設(shè)置于其上的待測組件依據(jù)初始順序進行N個檢測作業(yè)。在記錄步驟中，控制裝置將會將各個檢測裝置執(zhí)行各個檢測作業(yè)的結(jié)果，對應(yīng)儲存為檢測結(jié)果信息。在順序調(diào)整步驟中，控制裝置將統(tǒng)計在哪一個檢測作業(yè)執(zhí)行失敗的次數(shù)最多，并據(jù)以提升執(zhí)行失敗的次數(shù)最多的檢測作業(yè)在初始順序中的順序，產(chǎn)生優(yōu)化順序。