導正檢測裝置及硅片檢測分選設備
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202110516519.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113510076A | 公開(公告)日 | 2021-10-19 |
| 申請公布號 | CN113510076A | 申請公布日 | 2021-10-19 |
| 分類號 | B07C5/00(2006.01)I;B07C5/02(2006.01)I;B65G47/24(2006.01)I | 分類 | 將固體從固體中分離;分選; |
| 發(fā)明人 | 孫靖;曹葵康;胡輝來;顧燁;孫俊;蘇傲;錢春輝;程璧;張體瑞;溫延培 | 申請(專利權)人 | 蘇州天準科技股份有限公司 |
| 代理機構 | 蘇州國誠專利代理有限公司 | 代理人 | 馬振華 |
| 地址 | 215163江蘇省蘇州市高新區(qū)科技城潯陽江路70號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供一種導正檢測裝置及硅片檢測分選設備,其中,導正檢測裝置包括:導正機構、左右崩檢測機構以及輸送帶;所述導正機構包括:第一導正單元、第二導正單元以及驅動單元;所述左右崩檢測機構包括:左檢測單元、右檢測單元以及滑軌。本發(fā)明的第一導正單元、第二導正單元在導正時由初始位置進行相向運動,進而可避免壓壞輸送而來的硅片,有利于減少檢測分選過程中產(chǎn)生的碎片。同時,兩個檢測單元能夠沿所在滑軌進行位置調(diào)節(jié),且各檢測單元中的檢測相機、點激光、光源也能夠獨立調(diào)節(jié),有利于實際運行過程中的調(diào)試,提高了檢測的效率。 |





