一種研磨機(jī)晶圓放反報(bào)警系統(tǒng)
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201820428265.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)(公告)號(hào) | CN208368469U | 公開(kāi)(公告)日 | 2019-01-11 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN208368469U | 申請(qǐng)公布日 | 2019-01-11 |
| 分類號(hào) | H01L21/304;H01L21/66 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 楊聯(lián)富 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 日月光封裝測(cè)試(上海)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 林斯凱 |
| 地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)中國(guó)(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)郭守敬路669號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及研磨機(jī)晶圓放反報(bào)警系統(tǒng)。根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,晶圓檢測(cè)系統(tǒng)包含晶圓,所述晶圓具有正面和與所述正面相對(duì)的反面,其中所述正面具有電路圖案;以及光學(xué)檢測(cè)器,其安置于所述晶圓下方且不與所述晶圓接觸,所述光學(xué)檢測(cè)器經(jīng)配置以接收從晶圓表面射出的光線,并確定面向所述光學(xué)檢測(cè)器的所述晶圓表面是所述晶圓的所述正面。本實(shí)用新型的研磨機(jī)晶圓放反報(bào)警系統(tǒng)及方法有效改善因操作人員將晶圓放反而造成的高額經(jīng)濟(jì)損失。 |





