一種插座快速老化測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201920710112.4 申請日 -
公開（公告）號 CN210243812U 公開（公告）日 2020-04-03
申請公布號 CN210243812U 申請公布日 2020-04-03
分類號 G01R31/68(2020.01)I;G01R31/01(2020.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張濤;沈偉;李星晨;江德軍;沈能;姬敏杰;孔祥明;陳燕;蔡美行 申請（專利權）人 長興博泰電子科技有限公司
代理機構 浙江千克知識產權代理有限公司 代理人 趙衛(wèi)康
地址 313000浙江省湖州市長興縣經濟開發(fā)區(qū)南莊路289號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型屬于插座測試技術領域，具體涉及一種插座快速老化測試裝置。包括：插頭容納腔，用于容納插座的所有插頭；所述插頭容納腔，包括測試正電極、測試負電極和朝上的插座插口；所述測試正電極包括用于與所述插座的正極插頭電接觸的電接觸部，所述測試負電極包括用于與所述插座的負極插頭電接觸的電接觸部；驅動裝置，用于驅動所述測試正電極和/或所述測試負電極，使得其電接觸部能夠與所述插座的對應插頭電接觸或分離。上述技術方案中，直接將待測試的插座插頭朝下放入至插頭容納腔，由驅動裝置驅動插頭容納腔中的電極靠近或者遠離對應的插頭實現測試正、負電極與插座的電接觸，測試過程更加方便。??