高精度對位靶標(biāo)的加工方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202111069505.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113891581A | 公開(公告)日 | 2022-01-04 |
| 申請公布號 | CN113891581A | 申請公布日 | 2022-01-04 |
| 分類號 | H05K3/46(2006.01)I;H05K3/00(2006.01)I | 分類 | 其他類目不包含的電技術(shù); |
| 發(fā)明人 | 盧賽輝;劉蔡友;葉漢雄 | 申請(專利權(quán))人 | 惠州中京電子科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 惠州市超越知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 陳文福 |
| 地址 | 516029廣東省惠州市仲愷高新區(qū)陳江街道中京路1號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請是關(guān)于一種高精度對位靶標(biāo)的加工方法。該方法包括:在覆銅板的第一線路層上覆感光膜;利用第一菲林對第一線路層進(jìn)行曝光處理,使得第一線路層上第一靶標(biāo)區(qū)的感光膜固化,第一靶標(biāo)隔離區(qū)的感光膜不固化;第一靶標(biāo)區(qū)是嵌套于第一靶標(biāo)隔離區(qū)中部的圓形區(qū)域;對曝光處理后的第一線路層進(jìn)行顯影處理;對顯影處理后的第一線路層進(jìn)行蝕刻處理,得到與第一靶標(biāo)區(qū)尺寸相匹配的圓形銅箔;在第一線路層上壓合銅箔,得到第二線路層;通過鐳射燒靶將第二線路層對位區(qū)的銅箔清除,使得第一靶標(biāo)區(qū)和第一靶標(biāo)隔離區(qū)露出于第二線路層,以圓形銅箔作為第二線路層的對位靶標(biāo)。本申請?zhí)峁┑姆桨?,能夠提升靶?biāo)的真圓度,提高抓靶質(zhì)量。 |





