一種人工耳蝸植入體無損測試裝置及測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811631008.2 申請日 -
公開（公告）號 CN109557408A 公開（公告）日 2019-04-02
申請公布號 CN109557408A 申請公布日 2019-04-02
分類號 G01R31/02（2006.01）I; G01R31/12（2006.01）I; A61N1/36（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 郭朝陽; 徐振; 黃金明 申請（專利權(quán)）人 上海華聆人工耳醫(yī)療科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海科盛知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 上海華聆人工耳醫(yī)療科技有限公司
地址 200436 上海市靜安區(qū)江場三路228號612室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種人工耳蝸植入體無損測試裝置及測試方法，所述人工耳蝸植入體包括依次連接的蝸外參考電極、解碼器芯片和主電極，主電極包括通過絕緣涂層間隔設(shè)置的多個電極環(huán)，且絕緣涂層的寬度大于電極環(huán)的寬度，所述無損測試裝置包括柵控制電路板，該柵控制電路板正面設(shè)置有均勻間隔分布的多條導(dǎo)電柵，背面設(shè)置有柵控制電路，主電極覆蓋于柵控制電路板正面上，且主電極和柵控制電路板間設(shè)置有使電極環(huán)和導(dǎo)電柵導(dǎo)通的生理鹽水，柵控制電路通過柵控制輸出端與負(fù)載電阻連接，負(fù)載電阻與蝸外參考電極連接，柵控制電路板上導(dǎo)電柵的設(shè)置位置與主電極上電極環(huán)的設(shè)置位置相匹配。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)精巧，測試方便，破壞性小等優(yōu)點(diǎn)。