一種基于Transformer的缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110719488.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113610754A 公開（公告）日 2021-11-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN113610754A 申請(qǐng)公布日 2021-11-05
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I;G06T3/40（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06K9/62（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 葉朝偉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 浙江文谷科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 寧波甬致專利代理有限公司 代理人 李迎春
地址 315194浙江省寧波市鄞州區(qū)首南街道新興工業(yè)園區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種基于Transformer的缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)，本方法包括步驟：S1：獲取待測(cè)目標(biāo)的圖像信息，并對(duì)待測(cè)目標(biāo)的圖像信息進(jìn)行預(yù)設(shè)第一處理；S2：將預(yù)設(shè)第一處理后的待測(cè)目標(biāo)的圖像信息通過CNNBackbone進(jìn)行特征提取，得到待測(cè)目標(biāo)的圖像特征信息；S3：將待測(cè)目標(biāo)的圖像特征信息輸入Transformer結(jié)構(gòu)中進(jìn)行預(yù)設(shè)第二處理，并輸出N個(gè)目標(biāo)隊(duì)列。本方法能夠通過通過引入DETR（DetectionTransformer）算法來建立聯(lián)合檢測(cè)模型，使其既可適用于在小目標(biāo)上的缺陷檢測(cè)，也適用于在大目標(biāo)上的缺陷檢測(cè)。