一種晶圓參數(shù)的修調方法及裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201510979581.2 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN105551993A | 公開(公告)日 | 2016-05-04 |
| 申請公布號 | CN105551993A | 申請公布日 | 2016-05-04 |
| 分類號 | H01L21/66(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 徐四九;鄭東來 | 申請(專利權)人 | 上海威伏半導體有限公司 |
| 代理機構 | 上海精晟知識產權代理有限公司 | 代理人 | 上海威伏半導體有限公司 |
| 地址 | 201703 上海市青浦區(qū)崧秀路555號3幢1層G區(qū)134室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種晶圓參數(shù)的修調方法及裝置,所述方法包括:根據(jù)晶圓參數(shù)值和晶圓參數(shù)檔位值擬合線性公式;測量第N個實際晶圓參數(shù)值;根據(jù)線性公式、第N個實際晶圓參數(shù)值、第N個晶圓參數(shù)檔位值及目標晶圓參數(shù)值確定第N+1個晶圓參數(shù)檔位值;測量第N+1個實際晶圓參數(shù)值;根據(jù)線性公式、第N+1個實際晶圓參數(shù)值、第N+1個晶圓參數(shù)檔位值及目標晶圓參數(shù)值確定第N+2個晶圓參數(shù)檔位值;測量第N+2個實際晶圓參數(shù)值;確定第N+2個實際晶圓參數(shù)值與目標晶圓參數(shù)值的差值的絕對值是否小于第一預設值;在小于第一預設值時,將第N+2個晶圓參數(shù)檔位值四舍五入后的值確定為目標晶圓參數(shù)檔位值。本發(fā)明的修調時間端,提高了修調效率。 |





