一種單晶石榴石厚膜的間歇式液相外延生長方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201610382107.6 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN105887201B | 公開(公告)日 | 2018-06-19 |
| 申請公布號 | CN105887201B | 申請公布日 | 2018-06-19 |
| 分類號 | C30B29/28;C30B19/00;C30B19/10 | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
| 發(fā)明人 | 楊青慧;郝俊祥;張懷武;馬博;饒毅恒;田曉潔;賈利軍 | 申請(專利權(quán))人 | 成都威頻科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 電子科技大學專利中心 | 代理人 | 電子科技大學;成都威頻科技有限公司 |
| 地址 | 611731 四川省成都市高新區(qū)(西區(qū))西源大道2006號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種單晶石榴石厚膜的間歇式液相外延生長方法,本發(fā)明涉及石榴石厚膜的制備方法,具體提供一種石榴石單晶厚膜的液相外延間歇式生長方法,首先制備熔體、清洗基片,并進行薄膜試生長,得到生長速率隨生長溫度變化的模擬曲線E和薄膜晶格常數(shù)隨生長速率變化的模擬曲線F;然后進行厚膜初次生長,得到具有一定厚度的單晶石榴石薄膜,對初次生長得到的薄膜進行晶格失配測試,依據(jù)模擬曲線E、F調(diào)節(jié)薄膜生長溫度進行再次生長;多次重復直到晶格匹配,在晶格匹配下生長得到預設(shè)厚度。本發(fā)明通過間歇式生長方式得到了單晶石榴石厚膜,該膜與基底之間的晶格匹配度良好,為單晶態(tài);薄膜的結(jié)構(gòu)致密、表面平整,厚度可達100μm以上,是一種可應用于微波及磁光器件中的良好材料。 |





