一種芯片翹曲測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202123145014.7 申請日 -
公開（公告）號 CN216410091U 公開（公告）日 2022-04-29
申請公布號 CN216410091U 申請公布日 2022-04-29
分類號 G01B11/16（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 詹鑫源 申請（專利權）人 湖北方晶電子科技有限責任公司
代理機構 無錫智麥知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 宋春榮
地址 430000湖北省宜昌市秭歸縣茅坪鎮(zhèn)迎賓路126號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開一種芯片翹曲測試裝置，涉及芯片測試領域。包括支撐臺、翹曲測量組件、工位板和連接組件，支撐臺頂端的中部開設有嵌放槽，嵌放槽內設置有旋轉電機；翹曲測量組件設置在支撐臺的頂端；工位板設置在支撐臺頂端的中部，工位板的底端固定連接有連接套管；連接組件設置在旋轉電機的輸出端，連接組件包括連接桿，連接桿頂部的兩側均設置有鎖定機構，鎖定機構包括移動滑桿。該實用新型，通過連接組件的設計，使得工位板與旋轉電機的連接能夠進行自由和輕松的拆卸，這樣就能歐方便直接更換工位板，此時就節(jié)省了大量在工位板處記性芯片的拆裝時間，使得整個檢測裝置能夠實現(xiàn)快速檢測。