一種差分耦合線及其制備方法和損耗測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010303851.9 申請日 -
公開（公告）號 CN111458588B 公開（公告）日 2022-05-31
申請公布號 CN111458588B 申請公布日 2022-05-31
分類號 G01R31/00（2006.01）I;G01R27/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 羊楊 申請（專利權(quán)）人 恒為科技（上海）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 201114上海市閔行區(qū)陳行公路2388號8號樓6樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種差分耦合線及其制備方法和損耗測試方法，其中，所述差分耦合線除了信號線之外，還包括兩個(gè)第一測試線和兩個(gè)第二測試線，所述第一測試線的一端與所述第一信號線的一端連接，另一端用于連接測試連接器，所述第二測試線的一端與所述第二信號線的一端連接，另一端用于連接測試連接器，且所述第一測試線的阻抗與所述第一信號線的阻抗匹配，所述第二測試線與所述第二信號線的阻抗匹配，使得在對所述差分耦合線進(jìn)行損耗測試時(shí)，可以通過為所述第一測試線和第二測試線連接測試連接器的方式對所述差分耦合線進(jìn)行損耗測試，解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法對差分耦合線進(jìn)行損耗測試的問題。