IGBT器件動態(tài)測試用夾具及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010357952.4 申請日 -
公開（公告）號 CN113655242A 公開（公告）日 2021-11-16
申請公布號 CN113655242A 申請公布日 2021-11-16
分類號 G01R1/04（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王真;萬超群;李貴生;陳彥;宋自珍;陳喻;李義;翟龍;朱婷 申請（專利權(quán)）人 株洲中車時代半導(dǎo)體有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京聿宏知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 吳大建;張高潔
地址 412001湖南省株洲市石峰區(qū)田心高科園半導(dǎo)體三線辦公大樓三樓309室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種IGBT器件動態(tài)測試用夾具及方法，涉及IGBT器件技術(shù)領(lǐng)域，用于降低測試電路中雜散電感。本發(fā)明的IGBT器件動態(tài)測試用夾具，包括第一夾具、第二夾具和支撐架，通過將第一夾具和第二夾具分別設(shè)置為關(guān)于第一IGBT器件和第二IGBT器件對稱且具有層疊結(jié)構(gòu)，從而利用電磁耦合原理降低測試電路中雜散電感，有助于提升器件動態(tài)參數(shù)測試的可靠性。