半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制造方法和半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制造設(shè)備
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110043371.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN114765126A | 公開(公告)日 | 2022-07-19 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114765126A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-19 |
| 分類號(hào) | H01L21/768(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 李世鴻 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 長鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海晨皓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | - |
| 地址 | 230601安徽省合肥市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)空港工業(yè)園興業(yè)大道388號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明實(shí)施例提供一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制造方法及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制造設(shè)備,半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制造方法,包括:提供基底;在所述基底上形成圖形化的光刻膠層,以所述圖形化的光刻膠層為掩膜刻蝕所述基底;刻蝕所述基底后,采用等離子體灰化機(jī)對(duì)所述圖形化的光刻膠層和刻蝕產(chǎn)生的殘留物進(jìn)行等離子體灰化處理;所述等離子體灰化處理的過程在無氧環(huán)境中進(jìn)行。本發(fā)明實(shí)施例能夠去除半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)上的殘留物,且不產(chǎn)生新的殘留物,進(jìn)而能提高半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的電性能。 |





