驅(qū)動測試結(jié)構(gòu)、陣列基板及顯示面板

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202220637906.4 申請日 -
公開（公告）號 CN216956611U 公開（公告）日 2022-07-12
申請公布號 CN216956611U 申請公布日 2022-07-12
分類號 G02F1/1362（2006.01）I;G02F1/1345（2006.01）I 分類 光學(xué);
發(fā)明人 胡云欽;黃世帥;張立志;王曉潔;李榮榮 申請（專利權(quán)）人 滁州惠科光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 239000安徽省滁州市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)蘇滁大道101號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，提供一種驅(qū)動測試結(jié)構(gòu)、陣列基板及顯示面板，驅(qū)動測試結(jié)構(gòu)設(shè)于陣列基板的扇出區(qū)，驅(qū)動測試結(jié)構(gòu)包括：多個焊盤，多個焊盤間隔設(shè)置；至少一測試墊組，測試墊組設(shè)于任意相鄰的兩個焊盤之間；多個焊盤與測試墊組相互連通。本申請通過把測試墊組設(shè)置于任意相鄰的焊盤之間的方法，從而避免將測試墊組設(shè)置于外引線焊接區(qū)的左右兩側(cè)，以解決現(xiàn)有技術(shù)中為配合縮小尺寸的測試墊組使用，而需要制造更精細(xì)的測試探針及測試治具以適配并測試縮小的測試墊組，導(dǎo)致制造成本增加，以及對探針接觸測試墊組的操作精準(zhǔn)度要求更高，導(dǎo)致測試難度加大的技術(shù)問題。