一種評估大模場光纖纖芯折射率波動的系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110874551.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113324741B 公開（公告）日 2021-11-09
申請公布號 CN113324741B 申請公布日 2021-11-09
分類號 G01M11/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊笛;鄭愛虎;劉厚康;武春風(fēng);李強(qiáng);姜永亮;宋祥;戴玉芬;雷敏;袁紅 申請（專利權(quán)）人 武漢光谷航天三江激光產(chǎn)業(yè)技術(shù)研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京恒和頓知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 周君
地址 430000湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)高新大道999號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于光纖測試技術(shù)領(lǐng)域，并具體公開了一種評估大模場光纖纖芯折射率波動的系統(tǒng)及方法。所述系統(tǒng)包括超連續(xù)譜光源、光隔離器、單模光纖分束器以及光譜儀，光隔離器設(shè)于超連續(xù)譜光源的輸出端；單模光纖分束器的第一輸入端與光隔離器的輸出端熔接，其第二輸出端與待測大模場光纖的第二端偏心熔接，使得相同的脈沖光同時在待測光纖纖芯徑向的不同位置傳輸，光譜儀與單模光纖分束器的第三輸出端連接。所述方法包括，在待測大模場光纖的兩端，不同的纖芯位置注入超連續(xù)譜光，使得相同的脈沖光同時在待測光纖纖芯徑向的不同位置傳輸，最后同時匯入到單模光纖分束器中。本發(fā)明能夠快速評估大模場光纖纖芯折射率的波動，從而對光纖進(jìn)行快速篩選。