雷達(dá)芯片的測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010307880.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN111426940A 公開(kāi)（公告）日 2020-07-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN111426940A 申請(qǐng)公布日 2020-07-17
分類(lèi)號(hào) G01R31/28 分類(lèi) -
發(fā)明人 江明;陳勇;修劍平;林越 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 矽典微電子（上海）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州三英知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 矽典微電子（上海）有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)張衡路666弄1號(hào)207室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明揭示了一種雷達(dá)芯片的測(cè)試系統(tǒng)。所述測(cè)試系統(tǒng)包括：信號(hào)源，用于為待測(cè)雷達(dá)芯片提供射頻信號(hào)；頻譜儀，用于測(cè)量待測(cè)雷達(dá)芯片的發(fā)射信號(hào)；測(cè)試板，用于支持待測(cè)雷達(dá)芯片工作，并將待測(cè)雷達(dá)芯片的射頻輸出端口和射頻輸入端口引出；射頻接口模塊，包括用于將測(cè)試板上待測(cè)雷達(dá)芯片的射頻輸入端口連接至信號(hào)源的第一功分器、以及將測(cè)試板上待測(cè)雷達(dá)芯片的射頻輸出端口連接至頻譜儀的第二功分器；ATE機(jī)臺(tái)，用于獲取所述頻譜儀和/或待測(cè)雷達(dá)芯片的測(cè)量數(shù)據(jù)，以判斷待測(cè)雷達(dá)芯片的發(fā)射性能和/或接收性能是否達(dá)到設(shè)定目標(biāo)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)包括能夠?qū)崿F(xiàn)多路相同信號(hào)的串行測(cè)試以及多路不同信號(hào)的并行測(cè)試，提高測(cè)試效率，將低測(cè)試成本。