一種高端專用ASIC芯片的檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021538451.8 申請日 -
公開（公告）號 CN212989571U 公開（公告）日 2021-04-16
申請公布號 CN212989571U 申請公布日 2021-04-16
分類號 G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 寧建宇;徐四九 申請（專利權(quán)）人 嘉興威伏半導(dǎo)體有限公司
代理機構(gòu) 浙江永航聯(lián)科專利代理有限公司 代理人 蔣文
地址 314200浙江省嘉興市平湖市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)新興二路988號3號樓1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種高端專用ASIC芯片的檢測裝置，包括支撐機構(gòu)、移動機構(gòu)、承載機構(gòu)、升降機構(gòu)和探測機構(gòu)；支撐機構(gòu)包括第一平臺、第二平臺和支撐桿，支撐桿位于第一平臺和第二平臺之間，且第一平臺位于支撐桿上端，第二平臺位于支撐桿下端；承載機構(gòu)包括承載盤，承載盤的上表面上設(shè)有凹陷的圓形凹槽；移動機構(gòu)位于承載機構(gòu)和支撐機構(gòu)之間，移動機構(gòu)包括能橫向移動承載機構(gòu)的橫向移動機構(gòu)和能縱向移動承載機構(gòu)的縱向移動機構(gòu)；探測機構(gòu)包括具有探針過孔的PCB板，PCB板上設(shè)置有測試探針；升降機構(gòu)位于第一平臺的上表面，且探測機構(gòu)固定在升降機構(gòu)上。本實用新型具有避免檢測誤差、提高檢測精度、降低勞動強度、提高檢測效率等有益效果。??