一種半導體檢測用四探針

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022001211.0 申請日 -
公開（公告）號 CN213398671U 公開（公告）日 2021-06-08
申請公布號 CN213398671U 申請公布日 2021-06-08
分類號 G01R1/073（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊博 申請（專利權）人 柳州臻驅電控科技有限公司
代理機構 杭州知管通專利代理事務所（普通合伙） 代理人 黃華
地址 545000廣西壯族自治區(qū)柳州市雞喇路16號青山廠內(nèi)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種半導體檢測用四探針，包括本體，所述本體的上端固定安裝有絕緣板，所述絕緣板上端的中部固定安裝有測試板，所述本體后端的中部固定安裝有支架，所述支架的前端延伸至測試板上方，所述絕緣板上端的左端固定安裝有控制臺，所述控制臺的上端固定安裝有數(shù)示屏，所述數(shù)示屏的下端嵌入在控制臺的內(nèi)部，所述數(shù)示屏的上端與控制臺的上端為同一平面。該半導體檢測用四探針，通過安裝壓力傳感器可在對半導體進行檢測時可對測試頭下探的壓力進行探測，避免下探壓力過大將半導體原件造成損傷，使得測試數(shù)據(jù)失效，有效的提高了測試的精度，且對半導體原件進行保護，同時使測試更加的便捷，有效的增加了測試效率。