光伏組件EL檢測方法、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111419054.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN114092454A | 公開（公告）日 | 2022-02-25 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114092454A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-02-25 |
| 分類號(hào) | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 楊晨召;陶武松;李婷婷;肖小波;戚培東 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 晶科能源股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 314416浙江省嘉興市海寧市袁花鎮(zhèn)袁溪路58號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種光伏組件EL檢測方法、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，檢測方法包括提供包括采集待測光伏組件的EL圖像，確定圖像每個(gè)像素單元格的灰階值；得到EL子圖像對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素單元格的灰階平均值；取EL子圖像對(duì)應(yīng)的灰階平均值中的最大灰階值得到最大灰階值與其余灰階平均值的第一差值，或者，取EL子圖像對(duì)應(yīng)的灰階平均值中的最小灰階值得到其余灰階平均值與最小灰階值的第二差值；若第一差值的占比大于第一預(yù)設(shè)閾值，則待測光伏組件EL圖像異常；或者，若第二差值的占比大于第二預(yù)設(shè)閾值，則待測光伏組件EL圖像異常。本發(fā)明采用灰度差值來計(jì)算來判定EL缺陷，受外界因素干擾項(xiàng)較少。 |
