基于射頻指紋SEV的電磁信號與裝備關(guān)聯(lián)分析方法和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010161148.9 申請日 -
公開（公告）號 CN111401185A 公開（公告）日 2020-07-10
申請公布號 CN111401185A 申請公布日 2020-07-10
分類號 G06K9/00(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 吳國榮;夏亮;胡謙;劉海濤;易志鴻 申請（專利權(quán)）人 北京波爾通信技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) 北京匯彩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王鍵
地址 100193北京市海淀區(qū)中關(guān)村軟件園一期9號樓C座
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種基于射頻指紋SEV的電磁信號與裝備關(guān)聯(lián)分析方法和系統(tǒng)，使用輻射源個體確認技術(shù)，進行未知電磁信號與已知裝備的關(guān)聯(lián)分析，解決輻射源指紋識別中的開集識別問題，使未知電磁信號能被有效識別和關(guān)聯(lián)。本發(fā)明的方法是：首先提取獲取的電磁信號的常規(guī)特征參數(shù)，從已建立的裝備目標庫中篩選出與所提取的常規(guī)特征參數(shù)相吻合的候選目標，組成候選目標子集；再提取所述電磁信號的射頻指紋特征，以虛警率為衡量標準，選取SEV判決門限，在候選目標子集上執(zhí)行SEV，實現(xiàn)合理的識別與拒識；最后將SEV執(zhí)行結(jié)果與裝備目標庫中的已知裝備進行航跡融合與目標確認，完成電磁信號與裝備的關(guān)聯(lián)分析。??