用于解決碳化硅晶圓化學(xué)機(jī)械拋光后產(chǎn)生局部高點(diǎn)的方法、陶瓷盤、化學(xué)機(jī)械拋光裝置
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110988094.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113681456A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-11-23 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113681456A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-23 |
| 分類號(hào) | B24B37/10;B24B37/30;H01L21/02;H01L21/67 | 分類 | 磨削;拋光; |
| 發(fā)明人 | 劉少華;李坤寧;楊興嬌;李雪濤;趙煥君;崔景光 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 河北同光科技發(fā)展有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京連城創(chuàng)新知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 許莉 |
| 地址 | 071051 河北省保定市北三環(huán)6001號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)一種用于解決碳化硅晶圓化學(xué)機(jī)械拋光后產(chǎn)生局部高點(diǎn)的方法、一種陶瓷盤及應(yīng)用其的化學(xué)機(jī)械拋光裝置,涉及碳化硅晶圓加工技術(shù)領(lǐng)域,通過(guò)改變陶瓷盤貼片區(qū)域的形狀來(lái)達(dá)到改變晶圓局部受力分布,從而研磨去除掉晶圓局部高點(diǎn)。本發(fā)明所述的用于解決碳化硅晶圓化學(xué)機(jī)械拋光后產(chǎn)生局部高點(diǎn)的方法,通過(guò)車床將陶瓷盤的貼片區(qū)域車成與晶圓形狀一致的凹形曲面,且從圓形的貼片區(qū)域的邊緣向中心逐漸下凹1~10um,以使設(shè)備的壓力部件施加壓力到陶瓷盤時(shí),貼片區(qū)域的邊緣區(qū)域壓力比中心區(qū)域壓力高。 |





