晶圓測(cè)試方法、晶圓測(cè)試裝置以及晶圓測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810862873.1 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN108983072B 公開(kāi)(公告)日 2021-09-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN108983072B 申請(qǐng)公布日 2021-09-24
分類(lèi)號(hào) G01R31/28 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 劉宏志 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 無(wú)錫韋感半導(dǎo)體有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 蔡純;張靖琳
地址 214000 江蘇省無(wú)錫市新吳區(qū)菱湖大道111號(hào)無(wú)錫軟件園天鵝座C棟5樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種晶圓測(cè)試方法,包括:將待測(cè)晶圓上的管芯分成管芯組;向其中的多個(gè)管芯組提供激勵(lì)信號(hào);獲得所述多個(gè)管芯組的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù);以及根據(jù)所述多個(gè)管芯組的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)獲得每個(gè)管芯的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù),其中,所述多個(gè)管芯組執(zhí)行多路測(cè)試返回所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。通過(guò)分組能夠使得基于現(xiàn)有的測(cè)試機(jī)在一定時(shí)間內(nèi)多路測(cè)試更多的管芯,節(jié)省了測(cè)試時(shí)間和測(cè)試成本。本申請(qǐng)同時(shí)提供一種晶圓測(cè)試裝置和晶圓測(cè)試系統(tǒng)。