鍵合系統(tǒng)和鍵合補償方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202111595542.4 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN114005778A | 公開(公告)日 | 2022-02-01 |
| 申請公布號 | CN114005778A | 申請公布日 | 2022-02-01 |
| 分類號 | H01L21/68(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 田應超;劉天建;曹瑞霞;余文靜 | 申請(專利權)人 | 湖北三維半導體集成創(chuàng)新中心有限責任公司 |
| 代理機構 | 北京派特恩知識產權代理有限公司 | 代理人 | 高天華;蔣雅潔 |
| 地址 | 430000湖北省武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)高新四路18號新芯生產線廠房及配套設施2幢O(jiān)S6號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本公開實施例公開了一種鍵合系統(tǒng)和鍵合補償方法。所述鍵合補償方法包括:確定拾取的第一管芯的當前位置與第一目標位置之間的第一偏差值;確定晶圓上的第二管芯的當前位置與第二目標位置之間的第二偏差值;根據所述第一偏差值和所述第二偏差值,移動所述晶圓,以對準所述第一管芯和所述第二管芯;在所述第一管芯和所述第二管芯對準后,鍵合所述第一管芯和所述第二管芯;確定鍵合后的所述第一管芯的位置和所述第二管芯的位置之間的第三偏差值;根據所述第三偏差值,確定待鍵合的第三管芯與所述晶圓上的第四管芯的校準參數;根據所述校準參數,鍵合所述第三管芯和所述第四管芯。 |





