模型訓(xùn)練方法、特征點(diǎn)檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010430046.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN111611917A | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-09-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111611917A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-09-01 |
| 分類號(hào) | G06K9/00(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 趙芳;李驪;董晶;金博;王亮 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 加減信息科技（深圳）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 北京華捷艾米科技有限公司;加減信息科技（深圳）有限公司 |
| 地址 | 100193北京市海淀區(qū)東北旺西路8號(hào)院數(shù)字山谷A區(qū)1號(hào)樓5層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)了一種人臉特征點(diǎn)檢測(cè)模型訓(xùn)練方法、人臉特征點(diǎn)檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，在訓(xùn)練人臉特征點(diǎn)檢測(cè)模型時(shí)，將至少一個(gè)人臉圖像樣本輸入人臉特征點(diǎn)檢測(cè)模型，得到每一個(gè)人臉圖像樣本的人臉特征點(diǎn)預(yù)測(cè)值；獲取每一個(gè)人臉圖像樣本對(duì)應(yīng)的第一權(quán)重；每一個(gè)人臉圖像樣本對(duì)應(yīng)的第一權(quán)重與該人臉圖像樣本的人臉幾何變形信息正相關(guān)；以每一個(gè)人臉圖像樣本的人臉特征點(diǎn)預(yù)測(cè)值趨近于該人臉圖像樣本對(duì)應(yīng)的人臉特征點(diǎn)標(biāo)簽為目標(biāo)，利用各個(gè)人臉圖像樣本對(duì)應(yīng)的第一權(quán)重、人臉特征點(diǎn)預(yù)測(cè)值以及人臉特征點(diǎn)標(biāo)簽，對(duì)人臉特征點(diǎn)檢測(cè)模型的參數(shù)進(jìn)行更新。提高人臉特征點(diǎn)檢測(cè)模型對(duì)稀有的大姿態(tài)人臉的特征點(diǎn)的檢測(cè)精度。?? |
