一種存儲單元、存儲單元的制作方法以及存儲器
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202111315396.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN114038918A | 公開(公告)日 | 2022-02-11 |
| 申請公布號 | CN114038918A | 申請公布日 | 2022-02-11 |
| 分類號 | H01L29/792(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L27/11568(2017.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 陳歡;李立;賈宬;王志剛 | 申請(專利權(quán))人 | 珠海創(chuàng)飛芯科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 耿苑 |
| 地址 | 519080廣東省珠海市唐家灣鎮(zhèn)大學(xué)路101號清華科技園3棟305 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種存儲單元、存儲單元的制作方法以及存儲器。所述存儲單元包括:襯底,所述襯底的一側(cè)表面內(nèi)具有阱區(qū);位于所述表面上的隧穿氧化層;位于所述隧穿氧化層背離所述阱區(qū)一側(cè)表面的第一電荷存儲層;位于所述第一電荷存儲層背離所述隧穿氧化層一側(cè)表面的第二電荷存儲層;位于所述第二電荷存儲層背離所述第一電荷存儲層一側(cè)表面的調(diào)度氧化層;其中,所述第二電荷存儲層的電荷保持能力大于所述第一電荷存儲層。應(yīng)用本發(fā)明技術(shù)方案,提高了器件的存儲性能以及可靠性。 |





