一種調(diào)試芯片的方法及裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201811620324.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN109407655B | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN109407655B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-05-25 |
| 分類(lèi)號(hào) | G05B23/02(2006.01)I | 分類(lèi) | - |
| 發(fā)明人 | 萬(wàn)紅星 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 重慶中星微人工智能芯片技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 401120 重慶市北碚區(qū)云漢大道117號(hào)附338號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種調(diào)試芯片的方法及裝置，用于解決芯片內(nèi)部模塊在線功能調(diào)試和檢測(cè)的問(wèn)題。該方法包括：接收J(rèn)TAG控制器發(fā)送的第一控制指令，第一控制指令包括接口選擇信息；根據(jù)接口選擇信息選擇與總線連接的芯片的多個(gè)測(cè)試接口中的第一測(cè)試接口傳輸芯片的測(cè)試結(jié)果信號(hào)；接收總線傳輸?shù)臏y(cè)試結(jié)果信號(hào)；發(fā)送測(cè)試結(jié)果信號(hào)至JTAG控制器，以供調(diào)試使用。通過(guò)利用JTAG控制器進(jìn)行芯片內(nèi)部模塊在線功能調(diào)試和檢測(cè)，避免了對(duì)芯片定義冗余的調(diào)試接口，使對(duì)芯片內(nèi)部模塊的功能的在線調(diào)試和檢測(cè)更為便捷，提高測(cè)試效率。?? |
