一種缺陷定位方法、裝置及存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210417534.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114674261A 公開（公告）日 2022-06-28
申請公布號 CN114674261A 申請公布日 2022-06-28
分類號 G01B21/00（2006.01）I;G01B21/08（2006.01）I;G01B21/10（2006.01）I;G01B5/00（2006.01）I;G01B5/06（2006.01）I;G01B5/08（2006.01）I;H01M4/139（2010.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 龔林;趙栓柱;梁鑫;馬雅潔;代強;李圭善;劉建華;劉金成 申請（專利權）人 荊門億緯創(chuàng)能鋰電池有限公司
代理機構 北京品源專利代理有限公司 代理人 -
地址 448000湖北省荊門市荊門高新區(qū)·掇刀區(qū)高新路89號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種缺陷定位方法、裝置及存儲介質，其屬于鋰電池制備技術領域，缺陷定位方法具體為先根據(jù)缺陷識別記錄確定缺陷位置與第一預設位置在極片長度方向上的第一缺陷距離；測量極片的厚度及卷筒的外半徑；將所述第一缺陷距離、所述極片的厚度及所述卷筒的外半徑代入指定公式中，通過計算和轉換確定缺陷位置。本發(fā)明提供的缺陷定位方法、裝置及存儲介質能夠解決CCD設備漏打標的問題，使得能夠較精準計算缺陷位置，進行手動補標，其操作方法簡單、實用性強。