一種自動檢測裝置以及自動檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110427999.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112986267B 公開（公告）日 2021-08-03
申請公布號 CN112986267B 申請公布日 2021-08-03
分類號 G01N21/88（2006.01）I;G01N21/956（2006.01）I;G01N35/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 余太平;胡彥潮;許朋飛 申請（專利權(quán)）人 深圳市羅博威視科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市君勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 溫宏梅
地址 518107廣東省深圳市光明區(qū)公明街道李松蓢社區(qū)第二工業(yè)區(qū)第49棟101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及圖像數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域，提供一種自動檢測裝置以及自動檢測方法，其中自動檢測裝置包括：架體；滑軌，滑軌設(shè)于架體的上方并與架體連接；載物臺，載物臺設(shè)于滑軌的上方并與滑軌滑動連接，載物臺用于放置被檢測的納米晶導(dǎo)磁片，納米晶導(dǎo)磁片上的膜層包括多個待檢測區(qū)域，待檢測區(qū)域為二維碼區(qū)域、納米晶區(qū)域、藍膜區(qū)域、石墨區(qū)域或者銅箔區(qū)域；多個光學(xué)檢測工位，多個光學(xué)檢測工位沿滑軌來料方向依次設(shè)置，可對滑軌上依次輸送來的納米晶導(dǎo)磁片進行檢測，每個光學(xué)檢測工位用于對納米晶導(dǎo)磁片上的膜層的至少一個待檢測區(qū)域進行檢測，且每個光學(xué)檢測工位的位置可相對其檢測的待檢測區(qū)域進行調(diào)整。本發(fā)明提高了產(chǎn)品良率，并提高了生產(chǎn)效率。