一種基于納米孔的實驗裝置及實驗方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210337413.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114705743A 公開（公告）日 2022-07-05
申請公布號 CN114705743A 申請公布日 2022-07-05
分類號 G01N27/416（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 古志遠;殷云棟;楊磊 申請（專利權）人 南京師范大學
代理機構 南京蘇高專利商標事務所（普通合伙） 代理人 -
地址 210046江蘇省南京市棲霞區(qū)文苑路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種基于納米孔的實驗裝置及實驗方法，實驗裝置包括：操作單元，包括兩彈性墊片、緊密貼合于兩彈性墊片之間的基板，每一彈性墊片開設貫穿彈性墊片的通孔，基板具有氮化硅片，兩通孔分別暴露氮化硅片兩側表面，氮化硅片開設前后貫穿氮化硅片的納米孔；第一液池，具有第一容置腔；第二液池，具有第二容置腔，操作單元豎向夾緊于第一液池的開口與第二液池的開口之間，通過卡箍夾緊第一液池與第二液池外側以使操作單元分隔第一容置腔與第二容置腔，第一容置腔容置有第一溶液，第二容置腔容置有第二溶液；調(diào)節(jié)裝置，設于第一液池與第二液池之間，用于進行基于納米孔的實驗裝置重復拆裝實驗及單分子穿孔檢測實驗。