一種基于測試封裝Mapping自動檢查校驗方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210299882.0 申請日 -
公開（公告）號 CN114416514A 公開（公告）日 2022-06-24
申請公布號 CN114416514A 申請公布日 2022-06-24
分類號 G06F11/34;G06F11/32;G01R31/26;G06F40/186 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 楊栓;劉琨;關(guān)姜維;劉清華;李澤坤;雷慶汪 申請（專利權(quán)）人 南京偉測半導(dǎo)體科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 鄭州裕晟知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 王宇飛
地址 210000 江蘇省南京市浦口區(qū)浦口經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)雙峰路69號C-93
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于測試封裝Mapping自動檢查校驗方法及系統(tǒng)，自動檢查校驗方法包括：S1、確定待測關(guān)鍵參數(shù)；S2、構(gòu)建測試流程和測試數(shù)據(jù)的存儲路徑；S3、創(chuàng)建模板Mapping信息源；S4、獲取被測試產(chǎn)品的測試Mapping信息；S5、將測試Mapping信息解析后與模板Mapping信息源進(jìn)行比對；S6、如果S5中的比對結(jié)果完全一致，則進(jìn)入下一流程，如果任一項對應(yīng)的子項信息不一致，則重復(fù)S5；自動檢查校驗系統(tǒng)包括處理單元和與處理單元通信連接的輸入單元、存儲單元、標(biāo)準(zhǔn)單元、探針臺、解析單元和分析單元；本發(fā)明能夠保證晶圓測試Map信息的可靠性和準(zhǔn)確性。