多通道IC測(cè)試板通斷連接裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111168542.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113589000A 公開（公告）日 2021-11-02
申請(qǐng)公布號(hào) CN113589000A 申請(qǐng)公布日 2021-11-02
分類號(hào) G01R1/04（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 賀懷珍;李磊;曹琛熙;仇葳;郝雄;崔學(xué)鋒;沈程;呂勇 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 天津金海通半導(dǎo)體設(shè)備股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 天津企興智財(cái)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 石倩倩
地址 300384天津市濱海新區(qū)華苑產(chǎn)業(yè)區(qū)物華道8號(hào)A106
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種多通道IC測(cè)試板通斷連接裝置，IC轉(zhuǎn)接板上設(shè)置若干通斷組件，基板上設(shè)置若干限位軌道，且每個(gè)通斷組件可拆卸連接至一個(gè)限位軌道后使IC轉(zhuǎn)接板與基板相對(duì)位置固定，限位軌道外圍固定連接動(dòng)力源的一側(cè)，每個(gè)線性位移的限位軌道分別帶動(dòng)一個(gè)通斷組件與基板相對(duì)運(yùn)動(dòng)，且若干通斷組件均同步運(yùn)動(dòng)，基板內(nèi)設(shè)置第二測(cè)試板，每個(gè)通斷組件可拆卸連接至一個(gè)限位軌道后使第二測(cè)試板上端與第一測(cè)試板的下端的定位插接。本發(fā)明所述的多通道IC測(cè)試板通斷連接裝置，在應(yīng)用至五千以上通道的集成IC測(cè)試板上時(shí)，防止板子變形的同時(shí)也降低了勞動(dòng)強(qiáng)度，增加了工作效率，且單人即可實(shí)現(xiàn)IC測(cè)試操作以及第一測(cè)試板的更換，增加了設(shè)備的使用率。