紅外光學材料均勻性測試的溫度影響評估和控制方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811219048.6 申請日 -
公開（公告）號 CN109406108B 公開（公告）日 2020-03-10
申請公布號 CN109406108B 申請公布日 2020-03-10
分類號 G01M11/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 麥綠波 申請（專利權(quán)）人 中國兵器工業(yè)標準化研究所
代理機構(gòu) 中國兵器工業(yè)集團公司專利中心 代理人 王雪芬
地址 100089 北京市海淀區(qū)車道溝10號院
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及紅外光學材料均勻性測試的溫度影響評估和控制方法，涉及紅外光學材料均勻性測試技術領域。本發(fā)明基于對紅外光學材料折射率均勻性測試期間試樣局部小的溫度變化對測試結(jié)果精度影響的發(fā)現(xiàn)，建立了紅外光學材料折射率測試精度要求和不同紅外光學材料溫度變化對折射率影響對應的測試室環(huán)境溫度控制的二維數(shù)值表格關系，并建立了相關計算公式進行數(shù)值計算和填表，提供了紅外光學材料均勻性測試的溫度影響評估和控制方法，建立了紅外光學材料均勻性測試的溫度影響評估和控制方法的技術解決方案，能夠為紅外光學材料均勻性測試精度的保證提供溫度控制的準確指導。