透明或半透明介質(zhì)上、下表面三維位置檢測方法、系統(tǒng)和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010412395.1 申請日 -
公開（公告）號 CN112816505A 公開（公告）日 2021-05-18
申請公布號 CN112816505A 申請公布日 2021-05-18
分類號 G01N21/958;G01N21/94;G01N21/88 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李浩天;丁俊飛 申請（專利權(quán)）人 奕目（上海）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海段和段律師事務(wù)所 代理人 李佳俊
地址 201109 上海市閔行區(qū)劍川路951號1幢1103室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種透明或半透明介質(zhì)上、下表面三維位置檢測方法，設(shè)置至少一光源，以適合角度照射被測所述透明或半透明介質(zhì)，使得所述透明或半透明介質(zhì)的上、下表面形成紋理圖像，且能夠被至少一臺光場相機(jī)拍攝成像；使用所述光場相機(jī)拍攝所述透明或半透明介質(zhì)成像的紋理區(qū)域，并進(jìn)行光場多視角渲染及深度計(jì)算，獲得光場多視角圖像和光場深度圖像；根據(jù)透明或半透明介質(zhì)上、下表面紋理的三維位置信息，獲得所述的透明或半透明介質(zhì)上、下表面的三維位置信息。