一種基于光場相機(jī)的透明或半透明介質(zhì)缺陷檢測系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010412397.0 申請日 -
公開（公告）號 CN112824881A 公開（公告）日 2021-05-21
申請公布號 CN112824881A 申請公布日 2021-05-21
分類號 G01N21/958;G01N21/95;G01N21/88;G01B11/24;G06T7/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李浩天 申請（專利權(quán)）人 奕目（上海）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海段和段律師事務(wù)所 代理人 李佳俊
地址 201109 上海市閔行區(qū)劍川路951號1幢1103室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種透明或半透明介質(zhì)缺陷檢測系統(tǒng)，包括，待檢測的透明或半透明介質(zhì)，至少一個光源，用于將光線照射至所述的透明或半透明介質(zhì)，光場相機(jī)，拍攝獲取所述透明或半透明介質(zhì)的圖像，用以檢測出所述的透明或半透明介質(zhì)存在的三維缺陷，該檢測的步驟包括：用光圈匹配后的光場相機(jī)拍攝多張散焦柔光板，進(jìn)行光場白圖像校準(zhǔn)，并且完成微透鏡中心校準(zhǔn)；進(jìn)行光場相機(jī)尺度校準(zhǔn)，搭設(shè)適合角度的光源；用光場相機(jī)拍攝被測介質(zhì)缺陷區(qū)域并處理得到多視角及深度圖像，基于多視角圖像中缺陷的形狀及顏色，剔除深度圖中非缺陷點，最終獲得所述的透明或半透明介質(zhì)缺陷的三維信息。