透明或半透明介質(zhì)缺陷檢測系統(tǒng)和方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010693093.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112748071A 公開（公告）日 2021-05-04
申請公布號 CN112748071A 申請公布日 2021-05-04
分類號 G01N21/01;G01N21/958 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李浩天 申請（專利權(quán)）人 奕目（上海）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海段和段律師事務(wù)所 代理人 李佳俊
地址 201109 上海市閔行區(qū)劍川路951號1幢1103室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種透明或半透明介質(zhì)缺陷檢測系統(tǒng)，該檢測系統(tǒng)包括，待檢測物品，該物品為透明或半透明介質(zhì)構(gòu)成；至少一個光源，該光源的光線照射至所述的待檢測物品；共聚焦激光器，通過對所述待檢測物品的照射，獲得所述待檢測物品表面相對所述共聚焦激光器的距離數(shù)據(jù)；光場相機(jī)，拍攝獲取所述待檢測物品的圖像，根據(jù)獲得的所述待檢測物品的圖像檢測出所述待檢測物品透明或半透明介質(zhì)中存在的三維缺陷。