一種控制固元顆粒質(zhì)量的檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110804848.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113533612A 公開(kāi)（公告）日 2021-10-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN113533612A 申請(qǐng)公布日 2021-10-22
分類號(hào) G01N30/90 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 高陽(yáng);徐多多;楊獻(xiàn)玲;高其品;張海濤;林麗君;樊海濤;潘鵬源 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 吉林敖東藥業(yè)集團(tuán)延吉股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 關(guān)暢
地址 133001 吉林省延邊朝鮮族自治州高新技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)長(zhǎng)白路389號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種控制固元顆粒質(zhì)量的檢測(cè)方法。它包括如下步驟：薄層色譜檢測(cè)與特征圖譜鑒定檢驗(yàn)供試品固元顆粒是否合格；然后通過(guò)分子量與分子量分布的測(cè)定供試品固元顆粒重均分子量，以最終確定供試品固元顆粒是否合格。本發(fā)明方法對(duì)供試品質(zhì)量進(jìn)行定性控制，并定量控制其中特定成分的含量，以保證供試品的穩(wěn)定性和均一性；并進(jìn)一步通過(guò)分子量與分子量分布測(cè)定法具有簡(jiǎn)便，重現(xiàn)性好的特點(diǎn)。