大孔徑時空聯(lián)合調(diào)制型干涉成像光譜儀的寄生像校正方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210237780.6 申請日 -
公開（公告）號 CN114693549A 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN114693549A 申請公布日 2022-07-01
分類號 G06T5/00（2006.01）I;G06T5/50（2006.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/66（2017.01）I;G06T7/70（2017.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 陳鐵橋;劉佳;蘇秀琴;馮向朋;張耿;王爽;李海巍;楊文濤;劉學(xué)斌;李思遠;王一豪;劉杰 申請（專利權(quán)）人 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所
代理機構(gòu) 西安智邦專利商標代理有限公司 代理人 -
地址 710119陜西省西安市高新區(qū)新型工業(yè)園信息大道17號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于寄生像校正方法，為解決目前采用減光片對寄生像進行遮擋，來減弱寄生像對成像質(zhì)量影響的方法，會降低能量利用率，在采用大孔徑時空聯(lián)合干涉成像光譜儀獲取目標信息時，難以滿足高能量、高信噪比需求的技術(shù)問題，提供一種大孔徑時空聯(lián)合調(diào)制型干涉成像光譜儀的寄生像校正方法，通過激光點和其對應(yīng)寄生像的能量位置關(guān)系，能夠準確確定干涉成像光譜儀的反射中心、反射系數(shù)和寄生像范圍，進而使干涉成像光譜儀能夠精準定位其圖像的寄生像，然后，只需在圖像中去除相應(yīng)的寄生像，即可完成寄生像校正，為干涉成像光譜儀的寄生像校正提供了一種新的思路。