測試芯片的方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911150434.9 申請日 -
公開（公告）號 CN110788029B 公開（公告）日 2021-09-14
申請公布號 CN110788029B 申請公布日 2021-09-14
分類號 B07C5/344;G01R31/28 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 胡信偉 申請（專利權(quán)）人 南京派格測控科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司 代理人 程佩玉
地址 211899 江蘇省南京市江北新區(qū)研創(chuàng)園團(tuán)結(jié)路99號孵鷹大廈1272室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了測試芯片的方法及裝置，該方法，包括：從待測試的多個芯片中確定多個樣本芯片；確定每個樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)的值；確定多個樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)的值的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差，生成當(dāng)前性能指標(biāo)的測試范圍，測試范圍為(μ1?3σ1，μ1+3σ1)，μ1為平均值，σ1為標(biāo)準(zhǔn)差；針對每個非樣本芯片，執(zhí)行：確定當(dāng)前的非樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)的值，判斷當(dāng)前的非樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)的值是否在當(dāng)前性能指標(biāo)的測試范圍內(nèi)，如果是，則確定當(dāng)前的非樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)是合格的，否則，確定當(dāng)前的非樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)是不合格的；多個芯片中不是樣本芯片的芯片為非樣本芯片。本發(fā)明提供了測試芯片的方法及裝置，能夠提高合格的芯片的一致性。