一種芯片的質(zhì)量檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110606807.X 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN113325298A 公開（公告）日 2021-08-31
申請公布號(hào) CN113325298A 申請公布日 2021-08-31
分類號(hào) G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 胡信偉;侯林;李翔 申請（專利權(quán)）人 南京派格測控科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京海虹嘉誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 侯越玲
地址 210000江蘇省南京市中國（江蘇）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)南京片區(qū)研創(chuàng)園團(tuán)結(jié)路99號(hào)孵鷹大廈1272室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種芯片的質(zhì)量檢測裝置，包括至少兩個(gè)測試站和控制單元，至少兩個(gè)測試站以串測的方式對芯片進(jìn)行測試，所述控制單元基于抽測指數(shù)來指示測試站抽取合格芯片并進(jìn)行至少一次質(zhì)量測試；所述抽測指數(shù)的確定方式為，m＝n?a+b，其中，m表示抽測指數(shù)，n表示一輪測試芯片的數(shù)量；a表示測試站的數(shù)量；b表示測試站的序號(hào)。本發(fā)明通過對抽測指數(shù)進(jìn)行確定并且基于抽測指數(shù)進(jìn)行質(zhì)量測試的數(shù)據(jù)調(diào)節(jié)，從而提高了各個(gè)測試站的測試效率。