一種缺陷檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111045437.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113763355A 公開(kāi)（公告）日 2021-12-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN113763355A 申請(qǐng)公布日 2021-12-07
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/50（2017.01）I;G06T7/73（2017.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 張發(fā)恩;李鍇瑩;刁曉淳 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 創(chuàng)新奇智（青島）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 唐正瑜
地址 266200山東省青島市即墨市通濟(jì)新經(jīng)濟(jì)區(qū)九江路17號(hào)A1-9
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N缺陷檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。方法包括：獲取待檢測(cè)對(duì)象的待識(shí)別圖像和深度圖像；所述待檢測(cè)對(duì)象在所述待識(shí)別圖像和所述深度圖像中所占的像素點(diǎn)位置相同；將所述待識(shí)別圖像輸入缺陷檢測(cè)模型中，獲得所述缺陷檢測(cè)模型輸出的缺陷區(qū)域；根據(jù)所述深度圖像確定所述缺陷區(qū)域中的像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的深度信息；根據(jù)所述深度信息獲得缺陷檢測(cè)結(jié)果。本申請(qǐng)實(shí)施例通過(guò)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行圖像采集，并對(duì)圖像進(jìn)行缺陷識(shí)別，在確定缺陷區(qū)域后，利用缺陷區(qū)域?qū)?yīng)的深度圖獲得深度信息，最后根據(jù)深度信息確定是否是目標(biāo)缺陷。本申請(qǐng)實(shí)施例通過(guò)對(duì)圖像進(jìn)行處理實(shí)現(xiàn)缺陷的檢測(cè)，并結(jié)合深度信息確定目標(biāo)缺陷，提高了檢測(cè)缺陷的效率。