太赫茲三維層析成像系統(tǒng)樣品位置自動調(diào)節(jié)裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022935644.3 申請日 -
公開（公告）號 CN214252008U 公開（公告）日 2021-09-21
申請公布號 CN214252008U 申請公布日 2021-09-21
分類號 G01N21/3586（2014.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉平安;朱新勇;張磊;劉永利;王玉建;張朝惠;郭永玲 申請（專利權(quán)）人 青島青源峰達(dá)太赫茲科技有限公司
代理機構(gòu) 青島高曉專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 付麗麗
地址 266200山東省青島市嶗山區(qū)九水東路600號青島高層次人才創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)基地C座東側(cè)1-3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種太赫茲三維層析成像系統(tǒng)樣品位置自動調(diào)節(jié)裝置，包括發(fā)射光路單元、探測光路單元、可見激光測距儀、升降平移臺；發(fā)射光路單元固定端和探測光路單元固定端均轉(zhuǎn)動連接在轉(zhuǎn)軸上，可見激光測距儀固定在發(fā)射光路單元光軸和探測光路單元光軸形成的夾角的角平分線上，且可見激光測距儀發(fā)出的激光與發(fā)射光路單元光軸和探測光路單元光軸在同一平面上，樣品固定在升降平移臺上表面，左右或前后移動升降平移臺，使可見激光測距儀發(fā)出的激光光斑落在待測樣品表面，可見激光測距儀能夠檢測可見激光測距儀到樣品上表面的距離，基于可見激光測距儀檢測的距離調(diào)整升降平移臺，使樣品置于最佳樣品放置點，實現(xiàn)最大信噪比的成像。