一種積累型溝道結(jié)構(gòu)的T-gate溝槽碳化硅晶體管及其制作方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202110568683.0 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113299748A | 公開(公告)日 | 2021-08-24 |
| 申請公布號 | CN113299748A | 申請公布日 | 2021-08-24 |
| 分類號 | H01L29/739;H01L29/78;H01L29/423;H01L29/16;H01L29/10;H01L21/336;H01L21/331 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 何志;鄭柳 | 申請(專利權(quán))人 | 重慶偉特森電子科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 重慶西南華渝專利代理有限公司 | 代理人 | 郭桂林 |
| 地址 | 400700 重慶市北碚區(qū)云漢大道117號附237號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種積累型溝道結(jié)構(gòu)的T?gate溝槽碳化硅晶體管,包括襯底、緩沖層和外延薄膜;外延薄膜頂部中心的設(shè)置有溝槽,溝槽的側(cè)壁和底部分別設(shè)有第一柵氧化層和第二柵氧化層;溝槽內(nèi)部填充有柵電極;溝槽兩側(cè)對稱設(shè)有基底和基區(qū);基區(qū)頂部覆蓋源區(qū);源區(qū)和柵電極的頂部覆蓋有隔離介質(zhì)層;源區(qū)、基區(qū)、基底和隔離介質(zhì)層頂部設(shè)有源電極;襯底背面設(shè)有漏電極。本發(fā)明的溝槽型碳化硅晶體管采用積累型溝道結(jié)構(gòu)代替?zhèn)鹘y(tǒng)器件中的反型層溝道,以此來提高溝道載流子遷移率,降低晶體管的溝道電阻和閾值電壓。 |





