面向5G大規(guī)模陣列天線測試的OTA測試系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011549493.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112564828A 公開（公告）日 2021-03-26
申請公布號 CN112564828A 申請公布日 2021-03-26
分類號 H04B17/20(2015.01)I;H04B17/15(2015.01)I;H04B7/0408(2017.01)I;H04B7/0413(2017.01)I;H04B17/29(2015.01)I 分類 電通信技術;
發(fā)明人 孫思揚;呂雪瑋;王娜;劉廣慧;董慶雨;劉振濤;楊斌;梁攀攀 申請（專利權）人 普天信息工程設計服務有限公司
代理機構 北京三友知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 侯天印;楊丹
地址 100191北京市海淀區(qū)花園北路52號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種面向5G大規(guī)模陣列天線測試的OTA測試系統(tǒng)及方法，包括：近場采樣探頭每到達一個空間采樣點位返回到位確認信號至多任務控制裝置；多任務控制裝置實時響應該信號，將存儲的測試任務信息依次發(fā)送至陣面控制裝置；陣面控制裝置依次生成相應待測波束；待測大規(guī)模陣列天線設備和近場采樣探頭發(fā)射或接收測試信號；待測大規(guī)模陣列天線設備將射頻測試信號轉(zhuǎn)換為IQ測試信號，并生成IQ參考信號，發(fā)送至測試計算機；測試計算機基于所述IQ參考數(shù)字信號對所述IQ測試數(shù)字信號進行歸一化處理，通過近遠場變換確定待測大規(guī)模陣列天線設備的OTA性能指標。該方案單次掃描能夠完成待測設備多個頻點下多個波束狀態(tài)的OTA性能測試。??