低噪聲溫度檢測(cè)電路及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911413703.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113125024A 公開（公告）日 2021-07-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN113125024A 申請(qǐng)公布日 2021-07-16
分類號(hào) G01K7/01（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 宋宇 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 鉅泉光電科技（上海）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海光華專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 施婷婷
地址 201210上海市浦東新區(qū)中國(guó)（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)張東路1388號(hào)16幢101室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種低噪聲溫度檢測(cè)電路及方法，包括：第一三極管，連接于第一PMOS管的漏極與地之間；第二三極管，連接于第一電阻第一端與地之間，第一電阻的第二端連接第二PMOS管的漏極；第一、第二PMOS管的源極連接電源電壓；運(yùn)算放大器，分別連接第一、第二PMOS管的漏極，輸出端連接第一、第二PMOS管的柵極；第二電阻，一端連接第二PMOS管的漏極，另一端接地?；诘谝?、第二三極管及第一電阻產(chǎn)生正溫度系數(shù)的電流，得到與絕對(duì)溫度成正比的檢測(cè)電壓；調(diào)整第一、第二PMOS管的寬長(zhǎng)比及第二電阻的阻值減小輸出噪聲。本發(fā)明在不需要復(fù)雜結(jié)構(gòu)和額外面積的基礎(chǔ)上，有效的降低了溫度檢測(cè)電路的低頻噪聲，適用于低噪聲電路中。