一種基于有向稀疏采樣的手機(jī)屏幕缺陷檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110410722.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113096105A 公開(kāi)（公告）日 2021-07-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN113096105A 申請(qǐng)公布日 2021-07-09
分類(lèi)號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類(lèi) 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 張成英;李緗珍 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 深圳市玻爾智造科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州九洲專(zhuān)利事務(wù)所有限公司 代理人 張羽振
地址 518110廣東省深圳市龍華區(qū)觀瀾街道大富社區(qū)大富工業(yè)區(qū)20號(hào)硅谷動(dòng)力智能終端產(chǎn)業(yè)園A5棟101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于有向稀疏采樣的手機(jī)屏幕缺陷檢測(cè)方法，包括步驟：構(gòu)建DeNet模型；DeNet模型訓(xùn)練；檢測(cè)DeNet模型；輸出手機(jī)屏幕缺陷檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明的有益效果是：通過(guò)低成本的圖像處理技術(shù)提高手機(jī)屏幕缺陷檢測(cè)的精度；結(jié)合了基于稀疏區(qū)域方法的易于訓(xùn)練、場(chǎng)景適應(yīng)性和分類(lèi)精度，以及基于密集非區(qū)域方法的快速訓(xùn)練和評(píng)估；設(shè)定一個(gè)稀疏分布估計(jì)方案定向稀疏采樣模型（DeNet模型），并將其應(yīng)用于一個(gè)基于CNN的端到端檢測(cè)模型中，解決了現(xiàn)階段手機(jī)屏幕缺陷檢測(cè)中遇到的問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了擴(kuò)展和適用于以前的最先進(jìn)的檢測(cè)模型，并額外強(qiáng)調(diào)高評(píng)估率和減少人工工程。