全電波暗室測試裝置、傳感探頭測試方法和可讀存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910902407.6 申請日 -
公開（公告）號 CN110632678A 公開（公告）日 2019-12-31
申請公布號 CN110632678A 申請公布日 2019-12-31
分類號 G01V13/00;G01R29/08 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李中強;何焱凱 申請（專利權）人 深圳市深創(chuàng)谷技術服務有限公司
代理機構 深圳市世紀恒程知識產(chǎn)權代理事務所 代理人 深圳市深創(chuàng)谷技術服務有限公司
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道平山一路民企科技園5棟2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種全電波暗室測試裝置、傳感探頭測試方法以及可讀存儲介質。所述全電波暗室測試裝置包括：屏蔽室，所述屏蔽室的內壁設置有吸波材料；發(fā)射天線，所述發(fā)射天線設于所述屏蔽室內，且所述發(fā)射天線具有至少一個極化方向；測試平臺，所述測試平臺設于所述屏蔽室內，并相對所述發(fā)射天線可移動，所述測試平臺用于安置待檢測件；以及控制組件，所述控制組件與所述測試平臺電性連接，并與所述發(fā)射天線電性連接。本發(fā)明旨在對傳感探頭的數(shù)據(jù)采集能力進行數(shù)據(jù)收集，從而便于為后續(xù)改進工作提供數(shù)據(jù)支持。